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DualScope MP0鐵基非鐵兩用測厚儀 儀器集成了探頭，便于操作 出色的重復(fù)精度 受基材透磁率、電導(dǎo)率和幾何形狀（曲率和厚度等）影響小 享有的電導(dǎo)率補(bǔ)償技術(shù)（電渦流方法） 快速的單手操作：將儀器放置于工件上即可看到測量讀數(shù) 兩個(gè)背光液晶顯示屏，便于從各個(gè)角度讀取測量值，甚至可從儀器頂部讀取讀數(shù) -
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Fischer DUALSCOPE MP0膜厚儀優(yōu)勢分析 足夠小巧，甚至可以在比較難接觸到的區(qū)域進(jìn)行可靠的測量
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Fischer FGAB1.3磁性膜厚儀探頭 FGAB1.3探頭：FMP10、FMP30標(biāo)準(zhǔn)探頭：FGAB1.3是一款磁感應(yīng)探頭，是DeltaScope FMP10和DeltaScope FMP30磁性測厚儀的標(biāo)準(zhǔn)探頭，*！FGAB1.3 ： 604-141帶微處理芯片的智慧型插入式磁感應(yīng)探頭。若需要時(shí)，可修改存儲(chǔ)器。并有抗磨損涂層 -
FTD3.3曲率補(bǔ)償膜厚儀探頭測量非鐵磁性金屬基材（NC / NF）上的非導(dǎo)電涂層。 具有良好的曲率補(bǔ)償，特別適用于曲面上的測量，如車身，百葉窗等。不適用：與酸性液體接觸，測量小型薄涂層 凹曲率直徑。 -
X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀XDL-230 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用手動(dòng)方式，測量和分析印刷電路板、防護(hù)及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。德國菲希爾X射線膜厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230//240
