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Taylor Surtronic S128-技術(shù)參數(shù)詳解
- 更新時(shí)間:2017-05-08
- 瀏覽次數(shù):1242
Taylor Surtronic S128-技術(shù)參數(shù)詳解Surtronic S100系列取代了舊的Taylor Hobson型號(hào)Surtronic 25,Surtronic 3+和Surtronic 3P,Surtronic S100系列中的型號(hào)Surtronic S128便攜式表面光潔度計(jì)為您的粗糙度測(cè)量要求提供了多功能的解決方案。功能包括大型加固顯示器,長(zhǎng)壽命電池和簡(jiǎn)單的菜單結(jié)構(gòu)。
品牌 | TaylorHobson/英國(guó)泰勒霍普森 |
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Taylor Surtronic S128-技術(shù)參數(shù)詳解
篤摯儀器(上海)有限公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應(yīng)用于大中型國(guó)有企業(yè)、汽車(chē)制造業(yè)、精密機(jī)械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專(zhuān)院校等研究實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線、質(zhì)量控制和教育事業(yè),用于評(píng)價(jià)材料、部件及結(jié)構(gòu)的幾何特征和理化性能,推動(dòng)著精良制造技術(shù)的精益求精。
Surtronic S100系列取代了舊的Taylor Hobson型號(hào)Surtronic 25,Surtronic 3+和Surtronic 3P,Surtronic S100系列中的型號(hào)Surtronic S128便攜式表面光潔度計(jì)為您的粗糙度測(cè)量要求提供了多功能的解決方案。功能包括大型加固顯示器,長(zhǎng)壽命電池和簡(jiǎn)單的菜單結(jié)構(gòu)。 Surtronic可以獨(dú)立使用(水平,垂直或甚至倒置的表面)或臺(tái)式安裝,用于分批表面粗糙度測(cè)量和實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用。
- 具有直角連接和超過(guò)70mm觸針的50mm觸控筆提升可以確保即使是挑戰(zhàn)性的表面也可以測(cè)量,而無(wú)需昂貴的固定。防滑V形腳允許將Surtronic用于平面或曲面。
- Surtronic S100非常耐用,具有耐沖擊的橡膠模制件,圍繞凹陷,高耐用性的觸摸屏。
- 防滑V型腳可使Surtronic粗糙度檢查器在平面或曲面上使用
Talyprofile Lite軟件作為標(biāo)準(zhǔn)配置,提供表面處理分析*,自動(dòng)模板,圖形和易于使用的桌面出版。
Taylor Surtronic S128-技術(shù)參數(shù)詳解
特征:
多個(gè)表面粗糙度參數(shù)選項(xiàng),以適應(yīng)您的應(yīng)用
堅(jiān)固的顯示:每頁(yè)zui多7個(gè)參數(shù)加圖
測(cè)量周期快
*的觸控筆提升機(jī)構(gòu),具有*的靈活性
長(zhǎng)橫移長(zhǎng)度和延長(zhǎng)接收距離
內(nèi)置存儲(chǔ) - 多達(dá)100組表面粗糙度測(cè)量結(jié)果以及USB端口,實(shí)現(xiàn)*連接
耐用的可充電電池 - 從單次充電可達(dá)2000次測(cè)量
表面處理參數(shù)適合您的應(yīng)用:
Surtronic S100可以根據(jù)您的測(cè)量應(yīng)用計(jì)算各種表面光潔度參數(shù),包括:
幅度參數(shù)(測(cè)量表面偏差的垂直特性):
Ra(算術(shù)平均偏差,以前稱(chēng)為CLA或AA)
Rsk(Skewness)
Rz(平均峰谷高度)
Rv(取樣長(zhǎng)度內(nèi)平均線以下的zui大剖面深度)
Rt(輪廓總高度)
Rp(zui大輪廓峰高)
Rz1max(也稱(chēng)為Ry或Rmaz)(Max Peak to valley)
間距參數(shù)(測(cè)量表面偏差的水平特征):
RPc(峰值計(jì)數(shù))
RSm(輪廓元素的平均寬度)
混合參數(shù)(間距和振幅參數(shù)的組合):
Rmr(材料比)
Rdq - R Delta q(采樣長(zhǎng)度內(nèi)輪廓的均方根斜率)
上述參數(shù)涵蓋了檢查潤(rùn)滑,進(jìn)料速率,應(yīng)力,摩擦和磨損性能的zui常見(jiàn)要求。